專利/標準

專利主要是對發明與外觀設計等,經過申請並通過審查後所授予的一種權利;標準是一種單位、名稱、符號、尺度、試驗方法…等等的規格或標本,為達成某特定目的所訂之標準。目前館內訂購之專利、標準之資料庫如下:

專利資料庫

中華民國專利資訊檢索系統
提供中華民國專利檢索、案件狀態查詢、權利異動查詢等。欲查詢商標、著作權及其他法規查詢請連結至經濟部智慧財產局 

 

esp@cenet
查詢歐洲專利局(The European Patent Office)及世界智慧財產組織(World Intellectual Property Organization)之專利,免費開放給所有人查詢使用。

 

Reaxys

提供Beilstein CrossFire (organic)、Gmelin(inorganic) 及Patent Chemistry專利化學資料庫的整合查詢,並提供合成化學的線上研究工具。

 

USPTO:Patent Full-Text and Full-Page Image Databases
美國專利商標局(USPTO)所提供的專利全文資料庫,全文年代自1790年至今,免費開放給所有的人查詢使用。

 

標準資料庫

國家標準CNS網路服務系統
完整收錄民國33年至今的所有國內國家標準資料,每月更新。若要下載全文,請點選「網路版會員用戶」登入,帳號:c00n14s1 / 密碼:c00n14s1。使用後請務必按"登出",便於下一讀者使用。若只要查詢標準現況或瀏覽全文,可點選「預覽帳號申請」(免費)。
※同時使用人數:7人。
※CNS下載的標準電子圖檔,只能保存7天。

 

ASTM
收錄通過美國材料測試學會(American Society for Testing and Materials)之標準索摘與全文,涵蓋約13O多個領域,主題包括金屬、石油、紡織、化工、建築、環境、材料等領域。

 

IEEE Xplore(IEL) 

收錄IEEE/IET所出版的期刊、會議論文、IEEE工業標準。期刊全文年代自1988年起至今,部分期刊則回溯至1950年,標準則為最新的資料。

 

 

最近更新日期 : September 18, 2015 - 10:26am